Scattering Modulation Mapping in PARS Microscopy for Label-Free Microparticle Characterization

Genç S., Alparslan İ., Uluç N.

IEEE Photonics Conference (IPC), Colorado, Amerika Birleşik Devletleri, 8 - 12 Kasım 2026, ss.1, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Basıldığı Şehir: Colorado
• Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
• Sayfa Sayıları: ss.1
• Abdullah Gül Üniversitesi Adresli: Evet