Atıf İçin Kopyala
CAI Y., YALÇIN G., MUTLU O., HARATSCH E. F., CRISTAL A., UNSAL O., ...Daha Fazla
The 2014 ACM international conference on Measurement and modeling of computer systems - SIGMETRICS '14, Texas, Amerika Birleşik Devletleri, 16 - 20 Haziran 2014, ss.491-504